论著PASS矫治系统对支抗磨牙控制的有效性初探

　　【摘要】目的：评估PASS矫治系统治疗安氏Ⅰ类错合畸形的支抗控制效果。方法 分别选取经PASS矫治技术及新亚标准直丝弓技术（Roth矫治技术，以下均简称Roth组）治疗的安氏Ⅰ类错合患者各15例，其中双颌前突错合患者12例，重度拥挤患者18例，分别测量其治疗前后的头颅侧位片，评价患者矫治前后支抗磨牙位置变化①，总结PASS矫治系统支抗磨牙控制的特点。结果：与Roth技术治疗组相比，PASS系统治疗组支抗磨牙位置变化较小，差异有统计学意义，即支抗控制效果良好。结论PASS矫治系统无需额外支抗，能有效控制支抗磨牙位置变化。 

　　【关键词】安氏Ⅰ类错合 PASS矫治系统 支抗控制 

　　【中图分类号】R783.5 【文献标识码】B【文章编号】1004-4949（2015）03-0001-01

　　安氏Ⅰ类错合是临床上最为常见的一类错颌畸形，牙列拥挤又是安氏Ⅰ类错合最常见临床表现。其发生率约占错颌畸形总发生率的60%～70%①，因此，高效，舒适治疗这部分患者的临床压力尤为突出。这类患者治疗方案相对简单，通常拔除四颗第一前磨牙，充分利用拔牙间隙回收并排齐前牙，这对支抗控制提出了更高要求，临床上最常用额外支抗来控制支抗磨牙位置，如口外弓，种植支抗等②，但这些常用的支抗控制方法或增加了患者不适感，或增加了经济负担，PASS矫治系统的出现，使这些支抗控制的负面影响大大减小了。 

　　Pass矫治系统是近两年来出现在临床的一种矫治体系，因其独特的XBT颊管及充满奥妙的M-LF托槽使这一矫治系统无论在基础研究还是在临床应用上都收到了令人满意的效果。本研究应用该技术矫治安氏Ⅰ错合，观察治疗前后头颅侧位片上磨牙位置变化，总结相关技术要点，为临床提供参考。 

　　材料与方法 

　　1、一般资料 

　　选择河北省唐山市口腔医院正畸科2012～2014年就诊的安氏Ⅰ类错合患者30例，其中经PASS系统治疗15例（包括双颌前突错合患者5例，重度拥挤患者10例，男8例女7，年龄13～16岁，平均14.3岁）。经Roth系统治疗15例（包括双颌前突错合患者7例，重度拥挤患者8例，男8女7，年龄12～16岁，平均13.0岁）。 

　　2、纳入标准 

　　安氏Ⅰ类错合，骨性Ⅰ类，均角；双颌前突患者主要是双牙-牙槽骨的前突类型。 

　　无正畸治疗、颞下颌关节病及外伤史，无口腔不良习惯；对治疗知情同意。 

　　3、治疗方法 

　　行上下颌第一前磨牙拔除术后，分别应用PASS及Roth矫治系统治疗。 

　　治疗过程： 

　　①采用PASS矫治器及技术矫治，先不粘上下第二前磨牙，应用0.012英寸（1英寸=2.54cm）NiTi丝入槽，0.2mm结扎丝结扎，支抗磨牙处入后倾管备抗。②由细到粗依次更换NiTi丝，排齐整平上下牙列同时磨牙备抗，前牙覆盖正常后，粘接前磨牙托槽及上颌第二磨牙颊面管。③排齐整平上下牙列后，依次更换0.018*0.025英寸NiTi丝及钢丝，滑动法关闭拔牙间隙并精细调整。④结束治疗，进入保持阶段。 

　　①采用Roth矫治器及技术矫治，粘全口托槽及颊面管，应用0.012英寸（1英寸=2.54cm）NiTi丝入槽，0.25mm结扎丝结扎，尖牙向后结扎，弓丝末端回弯。根据患者不同口腔条件应用口外弓或TPA。②由细到粗依次更换NiTi丝，排齐整平上下牙列。③排齐整平上下牙列后，依次更换0.018*0.025英寸NiTi丝及钢丝，滑动法关闭拔牙间隙并精细调整。④结束治疗，进入保持阶段。 

　　4、头颅侧位片分析 

　　矫治前后拍摄头颅侧位片，用winceph8.0测图软件测量各标识点位置变化指标。所有测量项目均由第一作者在集中的时间内完成，所有测量项目间隔一周重复测量一次，共测三次取均值。